深圳市普云電子有限公司出品PY-E503系列恒溫恒濕試驗(yàn)箱模擬產(chǎn)品及材質(zhì)經(jīng)過(guò)溫度、濕度交替變化后是否有故障、質(zhì)變、無(wú)法正常工作的情況,以便供產(chǎn)品以及材料設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)之用,因此，廣受生產(chǎn)制造企業(yè)的青睞。隨著恒溫恒濕試驗(yàn)箱的使用越來(lái)越普及,任何產(chǎn)品的檢測(cè)都有一個(gè)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ,試驗(yàn)設(shè)備也都有適用的國(guó)標(biāo),恒溫恒濕試驗(yàn)箱作為基礎(chǔ)設(shè)備,也有適用的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),這點(diǎn)尤為關(guān)鍵與重要,對(duì)采購(gòu)恒溫恒濕試驗(yàn)箱具有指導(dǎo)性。
 

　　PY-E503系列恒溫恒濕箱性能指標(biāo)符合:
 

　　1、GB5170、 2、3、5、6-95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求;
 

　　2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A :低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 ( IEC68-2-1 ) ;
 

　　3、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B :高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 ( IEC68-2-2 ) ;
 

　　4、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)C :恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93 ( IEC68-2-3 ) ;
 

　　5、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)D :交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93 ( IEC68-2-30 ) ;
 

　　PY-E503系列恒溫恒濕試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn):
 

　　1、GB/T5170.5-96 《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》;
 

　　2、GB/T5170.2-96 《溫度試驗(yàn)設(shè)備》;
 

　　3、GB10586-93 《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;
 

　　4、GB10592-93 《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;
 

　　5、GJB150.3 ( ML-STD0-810D )高溫試驗(yàn)方法;
 

　　6、GJB150.4 ( MIL-STD-810D )低溫試驗(yàn)方法;
 

　　7、GJB360.8-87 ( MIL-STD-202f )高溫壽命試驗(yàn);
 

　　8、GJB4.5-1983 《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》;
 

　　9、GJB4.6-1983 《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》;
 

　　10、GJB150.9-1986
 

　　11、GJB367.2-1987 《junyong通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)。

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